LDMOS晶体管耐用性和可靠性研究

LDMOS晶体管耐用性和可靠性LDMOS晶体管耐用性和可靠性耐用性是射频应用领域中最重要的一项可靠性参数。恩智浦的第6代LDMOS晶体管几乎达到不可损坏的程度。在名为《LDMOS晶体管耐用性和可靠性》的技术文章中,恩智浦的技术专家详细介绍了具体技术细节,查阅全文请点击链接并下载。

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